Los instrumentos MiniLab GNR, unos de los espectrómetros de emisión óptica compactos más pequeños y ligeros disponibles en el mercado, han dado resultados analíticos sobresalientes logrando la satisfacción de los clientes, mediante su precio competitivo y su excelente rendimiento.
La difracción de rayos X (XRD) es una técnica no destructiva para el análisis cualitativo y cuantitativo de los materiales cristalinos, en forma de polvo o sólido.
GNR ha desarrollado, en cooperación con usuarios académicos e industriales, un conjunto de difractómetros flexibles y técnicamente avanzados, capaces de satisfacer diferentes niveles de requerimientos y diferentes presupuestos de operación.
El portafolio de productos de GNR en XRD cubre un amplio rango de aplicaciones para la caracterización de materiales y el control de calidad de materiales cristalinos o no cristalinos como polvos, especímenes, películas delgadas o líquidos.
Básicamente, la DRX se obtiene como la “reflexión” de un haz de rayos X de una familia de planos atómicos paralelos e igualmente espaciados, siguiendo la ley de Bragg: cuando un haz de rayos X monocromático de longitud de onda l incide en planos de rejilla con un ángulo q, se produce una difracción si la trayectoria de los rayos reflejados por planos sucesivos (con la distancia d) es un múltiplo de la longitud de onda.
El análisis cualitativo (análisis de fase) puede realizarse gracias a la comparación del difractograma obtenido del espécimen con un gran número de patrones incluidos en las bases de datos oficiales. Las fases individuales y/o las mezclas de fases pueden analizarse con los programas disponibles en la actualidad.
Aplicaciones de la tecnología XRD
Muchas investigaciones pueden realizarse con la ayuda de la difracción de rayos X.
Fuerzas de tensión residual: que resulta en una pequeña compresión o dilatación del espacio d. Con XRD es posible medir la tensión (la deformación de la red original) y la tensión se calcula gracias al conocimiento de las constantes elásticas del material
Textura: Es la orientación preferida de los cristalitos en un espécimen. Si hay una textura en un material, la intensidad de una línea de difracción cambia con la orientación de la muestra respecto al haz incidente.
Tamaño del cristalito y microdeformación: Esta información se obtiene mediante el análisis de la anchura y la forma de las líneas de difracción.
Análisis de estructura: El análisis de estructura XRD se utiliza para investigar la estructura cristalográfica de un material. La posición y las intensidades relativas de las líneas de difracción pueden correlacionarse con la posición de los átomos en la unidad celular y sus dimensiones. La indexación, el refinamiento de la estructura y la simulación pueden obtenerse con programas informáticos específicos.
Película fina: Manteniendo el haz incidente en ángulos bajos, es posible investigar las propiedades de las multicapas, minimizando la interferencia del sustrato. Del mismo modo, se puede realizar una reflectometría.